Благодаря угловой точности <± 0,01 ° Δ2θ во всем угловом диапазоне, AXRD LPD может решать очень сложные задачи дифракции. Эта система идеально подходит для монокристаллов, тонких пленок, массивных и порошковых образцов.

AXRD LPD имеет все необходимое для идентификации фаз, количественного фазового анализа, процентной кристалличности, размера и деформации кристаллитов, уточнения Ритвельда, определения характеристик пленок и тонких покрытий, анализа структуры и дифракции в плоскости. Благодаря множеству этапов отбора проб, мощному программному обеспечению и обширным опциям базы данных, AXRD LPD столь же универсален, как и ваши дифракционные потребности.

AXRD LPD — это универсальная платформа для всех ваших экспериментов по дифракции на порошке. Эта мощная и универсальная система позволяет легко заменять оптику, столики для образцов, экологические ячейки, детекторы рентгеновского излучения и рентгеновскую оптику. По мере изменения ваших требований к измерениям вы можете превратить стандартный LPD в полностью настраиваемое устройство, гарантируя, что ваша система всегда будет оптимально настроена для ваших нужд.